高溫對 LED 燈具的使用壽命和可靠性影響很大，熱量的集聚會導(dǎo)致LED 芯片溫度過高，損傷 pn 結(jié)，熒光粉也會加速老化，使燈具的整體壽命降低、光效下降。下面，對 LED 球泡燈進(jìn)行了溫度老化試驗(yàn)，對 LED 在高溫下加速壽命試驗(yàn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行整理。
led的球燈泡的高溫老化試驗(yàn)：
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 led純高溫老化箱
試驗(yàn)樣品：某型號 LED 球泡燈（日光色，3W，5700k）
失效判據(jù)為：光通量衰減至初值的 90% 作為偽失效標(biāo)準(zhǔn)。
試驗(yàn)過程：首先測試球泡燈的初始光電參數(shù)，然后將樣品以通電的工作狀態(tài)置于 85℃的溫度加速應(yīng)力下老化，加速老化總時(shí)間約為1250h，期間每隔一定時(shí)間測試樣品的光電參數(shù)。
試驗(yàn)結(jié)果分析：
將高溫應(yīng)力加速下的燈具樣品光通量進(jìn)行歸一化處理，其隨時(shí)間的變化曲線如下圖所示。
1.經(jīng)過了高溫加速壽命試驗(yàn)，光通量有了明顯的下降。
2.在試驗(yàn)剛開始階段，每個(gè)燈的光通量都有一定的上升，最高的達(dá)到了初始值的 1.06%。這是因?yàn)樵谠囼?yàn)剛開始的階段，高溫退火，p 型受體被進(jìn)一步激活，空穴濃度上升，載流子復(fù)合概率加大，光輸出增加。
3.試驗(yàn)中后期，晶格失配位錯(cuò)，缺陷更大，非輻射復(fù)合中心和電子空穴量子隧穿，最終導(dǎo)致光衰減。
4.在試驗(yàn)結(jié)束的時(shí)間，光通量終值比起初值都下降了 20~30lm。
試驗(yàn)結(jié)論：
利用光功率衰減模型對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，用威布爾分布模型對LED 進(jìn)行壽命分析，用 MATLAB 進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合可得出 LED 在 85℃應(yīng)力條件下進(jìn)行的加速試驗(yàn)是符合威布爾壽命分布模型。從而可以估算出在溫度為 85℃的應(yīng)力下，LED 產(chǎn)品的壽命大約為 4546 個(gè)小時(shí)。
如有LED燈泡的高溫加速壽命試驗(yàn)研究，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
