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LED模塊ESS(Environmental Stress Screening，ESS)可靠性試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)力篩選試驗(yàn)可以暴露產(chǎn)品的潛在缺陷，以避免該產(chǎn)品在使用過
LED燈ESS應(yīng)力篩選系統(tǒng)的溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)，是通過設(shè)定的溫度變化與速率能夠加強(qiáng)產(chǎn)品熱脹冷縮程度和加快頻次，增強(qiáng)產(chǎn)品的熱應(yīng)力，而循環(huán)次數(shù)增加能夠累積這種效應(yīng)
LED環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱是針對LED產(chǎn)品施加環(huán)境與工作應(yīng)力，例如溫度、濕度等，將正常生產(chǎn)流程中的功能檢測無法測出之潛在瑕疵暴露出來，從而盡早發(fā)現(xiàn)并將之剔除，以減
LED 產(chǎn)品在前期研制過程中，環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)項(xiàng)目選擇溫度循環(huán)應(yīng)力篩選方案，是試驗(yàn)過程的重要一環(huán)。溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗(yàn)是通過設(shè)定的溫度變化與速率能夠加強(qiáng)產(chǎn)品熱脹
在電路板上焊接安裝的LED ，當(dāng)安裝電路板在溫度變化較大的驅(qū)動條件或環(huán)境下使用時(shí)，會因?yàn)長ED 外封裝和電路板的線膨脹系數(shù)不同導(dǎo)致各自的膨脹、收縮程度出現(xiàn)差異，
LED燈珠溫度循環(huán)試驗(yàn)箱可以以5~15℃/min的溫變率，在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測試，此試驗(yàn)LED產(chǎn)品并非真正模擬實(shí)際情況。其目的在施加應(yīng)力于試件上
對于出廠的LED模塊（即LED顯示模組），需要進(jìn)行各個(gè)方面的性能測試，為了檢測OLED模組在高低溫環(huán)境下的工作性能，一般需要對LED模組進(jìn)行快速溫變測試。下面是
LED模組的快速升降溫試驗(yàn)需要使用LED模組快速升降溫試驗(yàn)箱，試驗(yàn)過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個(gè)循環(huán)，溫度循環(huán)試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度是以高/低溫度范圍
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