led高溫壽命老化系統(tǒng)主要用于led的高溫老化實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，由于LED使用的環(huán)境和條件各不相同，因此LED燈珠在封裝完成后，都需要進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)來(lái)驗(yàn)證其性能能否具備，在評(píng)估LED燈珠性能時(shí)，壽命測(cè)試是其重要的環(huán)節(jié)。
技術(shù)參數(shù)：
老化原理：
1.將焊接好的LED燈珠焊接到PCB基座上，然后用導(dǎo)線(xiàn)將多個(gè)PCB基座串聯(lián)或并聯(lián)在一起，然后通上額定電壓并置于led高溫壽命老化系統(tǒng)中，如下圖所示。
2.設(shè)定一定的溫度，讓其進(jìn)行高溫?zé)糁槔匣?/p>
3.老化到相應(yīng)時(shí)間后，查看是否有死燈情況，并對(duì)老化后的每顆LED燈珠進(jìn)行光通量、色溫、電壓等參數(shù)的測(cè)量，對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)估LED燈珠性能的好壞。
實(shí)驗(yàn)方法：
1.北美體系
LM-80 和TM-21兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的要求總結(jié)如下：
適用范圍：LED封裝、模塊、陣列等;
考察對(duì)象：只考察光通維持壽命，即緩變失效因素
老化溫度：指定點(diǎn)殼溫(Ts)為55℃，85℃和第三個(gè)指定溫度，三個(gè)溫度覆蓋燈具中LED光源的Ts溫度。
老化時(shí)間：6000h，推薦10000h;
2.IEC體系
IEC體系中用Lx Fy 來(lái)表征LED產(chǎn)品的壽命，其中，Lx表示光通量維持率，如L70;Fy表示失效率，包括緩變失效率By和瞬變失效率Cy。例如：L70F50為30000h是指：50%的模塊在30000h后的光通維持率在70%以下。
對(duì)于普通照明用的白光LED產(chǎn)品，IEC并不強(qiáng)調(diào)對(duì)聲稱(chēng)的壽命進(jìn)行驗(yàn)證，而是對(duì)限定時(shí)間的流明維持率進(jìn)行分級(jí)。
如有l(wèi)ed高溫壽命老化系統(tǒng)的選型疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
