隨著LED芯片功率的不斷增加和LED模塊尺寸的不斷減小，LED模塊在發(fā)光過程中的產(chǎn)熱量越來越多，如果不及時消散，會嚴重影響LED模塊的壽命和可靠性，因此，LED模塊的環(huán)境適應性試驗已成為出廠前的一項重要檢測。下面，為大家講解一下LED模塊10K/min速率測試方法。
LED模塊10K/min速率試驗方法：
試驗設備：環(huán)儀儀器 LED模塊快速溫度變化箱
試驗標準：GB/T 24823-2024 普通照明用LED模塊 性能規(guī)范
試驗概述：
設置的試驗箱中，施加對應于測試電壓的標稱電流。保證模塊在40℃±10 ℃的試驗箱中達到熱穩(wěn)定以后，試驗箱溫度為溫度循環(huán)測試的最高環(huán)境溫度，最低環(huán)境溫度為該溫度減50℃。這兩個溫度用于溫度循環(huán)試驗。整個試驗循環(huán)250次。
試驗過程：
a).當LED模塊工作于最高環(huán)境溫度中達到穩(wěn)定時，關閉LED模塊，并將試驗箱內環(huán)境溫度以10K/min的速率降到最低測試溫度;
b).將關閉狀態(tài)的 LED模塊在最低環(huán)境溫度下保持50min，然后在最低環(huán)境溫度下對LED模塊進行10個循環(huán)的10s開/50s關的開關試驗;
c).給模塊通電;
d).以10K/min的速率將試驗箱內溫度升高到試驗箱最高環(huán)境溫度;
e).將通電狀態(tài)的LED模塊在最高環(huán)境溫度下保持50min，然后在最高環(huán)境溫度下對 LED 模塊進行10個循環(huán)的10s開/50s關的開關試驗;
d).重復步驟a)~e)249次
合格性:
試驗結束后,在不少于15min的時間段內，所有LED模塊可以正常工作且光通量維持在所明示光通維持率代碼范圍內，同時沒有溫度循環(huán)所造成的比如開裂或標志剝離等物理影響。
如有試驗疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
