可程式高低溫 SSD BIT老化試驗(yàn)箱

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

可程式高低溫 SSD BIT老化試驗(yàn)箱可用于SSD固態(tài)硬盤批量性進(jìn)行高/低溫濕度老化測(cè)試，或用于PCB電路板、各類材料、電子產(chǎn)品等進(jìn)行高低溫濕度老化測(cè)試。

二、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤測(cè)試規(guī)范

YD/T 3825-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的機(jī)械硬盤測(cè)試規(guī)范

T/CCSA 266-2019 數(shù)據(jù)中心用固態(tài)硬盤測(cè)試規(guī)范

T/CCSA 266-2019 數(shù)據(jù)中心用固態(tài)硬盤測(cè)試規(guī)范

三、技術(shù)參數(shù)：

四、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1)支持多種SSD測(cè)試：面對(duì)不同SSD產(chǎn)品的測(cè)試只需更換測(cè)試板，當(dāng)載有SSD產(chǎn)品的測(cè)試板插入控制板時(shí)，控制板能夠智能識(shí)別插入的SSD類型并配置成不同PCIe接口，可以重復(fù)利用測(cè)試，無(wú)需重新設(shè)計(jì)，有效降低測(cè)試成本；

2)集成度高：采用模塊化的工控機(jī)并以載板形式安裝在控制板上，大大提高了產(chǎn)品集成度，SSD測(cè)試環(huán)境和SSD檢測(cè)同時(shí)在一個(gè)單元上實(shí)現(xiàn)；

3)可遠(yuǎn)程操作：可以遠(yuǎn)程對(duì)目標(biāo)測(cè)試單元下發(fā)各種測(cè)試指令，從而方便對(duì)工廠測(cè)試過(guò)程中可能遇到的各問(wèn)題進(jìn)行診斷；

4)提高測(cè)試一致性：適用于SSD產(chǎn)品的各個(gè)測(cè)試階段，包括工程師開(kāi)發(fā)驗(yàn)證階段，從而使測(cè)試的一致性得到保證，避免了因?yàn)楦鼡Q不同測(cè)試設(shè)備導(dǎo)致的測(cè)試不一致。