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隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展。半導體元器件作為組成各種電子電路的核心元件,不斷應用于各種嚴酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴酷的條件來縮短測試周期和即時的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方
JESD22高加速應力試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽
高壓蒸煮高溫高濕試驗箱用于產(chǎn)品作加速壽命試驗,使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測試其制品的耐厭性、氣密性。下面,我們來了解一下高壓蒸煮
高加速高壓蒸煮濕熱試驗箱用于評估非密封封裝固態(tài)設(shè)備在正常(環(huán)境)運行期間可能遇到潮濕環(huán)境的可靠性。HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試,其
高壓蒸煮試驗箱用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。待測產(chǎn)品被置于嚴苛
眾所周知,光電產(chǎn)品高壓蒸汽濕熱試驗機是用于光電產(chǎn)品的高加速濕熱試驗,加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試
光電器件在使用光電器件高加速濕熱試驗箱做測試過程中,由于高溫高濕的原因,會受到不同的失效情況,為了加速光電器件的吸濕速率以及縮短試驗時間,可使用加速試驗設(shè)備(光
光電產(chǎn)品可靠性測試領(lǐng)域,高加速溫濕度應力測試,俗稱HAST測試, 高加速溫度和濕度應力測試需要使用光電產(chǎn)品高加速溫濕度試驗箱,用于評估電光電產(chǎn)品的可靠性和耐用性