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高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)用于組件的溫度測(cè)試，例如汽車(chē)零件，傳感器，光纖收發(fā)器，微波設(shè)備，MCM，PCB，以及所有類(lèi)型的電子/非電子零件和其他測(cè)試物品。設(shè)備可調(diào)溫度-8
目前，IC芯片、LED芯片等智能存儲(chǔ)芯片在出廠檢測(cè)時(shí)需要進(jìn)行極端環(huán)境下的可靠性測(cè)試，以測(cè)試確定芯片失效時(shí)所處的溫差區(qū)間。這些測(cè)試需要使用冷熱沖擊試驗(yàn)熱流儀，下面
冷熱沖擊試驗(yàn)熱流儀可進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)測(cè)試，能提供精確的設(shè)置要求，可用于研究電子元件的熱阻，還可對(duì)電子元件進(jìn)行溫度循環(huán)和熱沖擊試驗(yàn)。可作為電子元件和材料表征的方法
高低溫?zé)崃鲀x是一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統(tǒng)，溫控范圍從-80C到+225℃，適用于各種應(yīng)用。高低溫?zé)崃鲀x可對(duì)對(duì)電子元件和材料進(jìn)行熱試驗(yàn)和表征，進(jìn)而提高它們
車(chē)身門(mén)蓋高低溫批量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)能適應(yīng)高低溫、濕度交變的惡劣環(huán)境。為模擬汽車(chē)車(chē)門(mén)開(kāi)關(guān)時(shí)所處的工作環(huán)境，車(chē)門(mén)開(kāi)關(guān)耐久試驗(yàn)方案應(yīng)考慮不同的試驗(yàn)環(huán)境，需滿(mǎn)足的環(huán)境溫度范圍:
車(chē)門(mén)車(chē)蓋溫度環(huán)境疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)的使用過(guò)程中，需要對(duì)前后蓋試驗(yàn)運(yùn)行中的故障進(jìn)行判，下面，我們通過(guò)實(shí)際案例，來(lái)看看這些故障判斷的主要內(nèi)容有哪些。前后蓋試驗(yàn)運(yùn)行中的故障
汽車(chē)門(mén)蓋高低溫耐久試驗(yàn)臺(tái)是用于對(duì)車(chē)身功能部件開(kāi)關(guān)耐久性進(jìn)行確認(rèn)。將車(chē)門(mén)和開(kāi)關(guān)車(chē)門(mén)時(shí)必需的附件一并裝配到實(shí)車(chē)或自車(chē)身上，在試驗(yàn)臺(tái)上進(jìn)行通常開(kāi)關(guān)耐久試驗(yàn)和過(guò)開(kāi)度耐久
汽車(chē)閉合件溫度環(huán)境疲勞試驗(yàn)過(guò)程中，通過(guò)人機(jī)交互界面設(shè)置測(cè)試需求，通過(guò)CAN總線(xiàn)發(fā)送給門(mén)測(cè)試控制器，門(mén)測(cè)試控制器根據(jù)需求控制電磁閥通斷電來(lái)帶動(dòng)氣缸運(yùn)動(dòng)，并通過(guò)四連
